IE C 68-2-5 :1975標準的解讀
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發(fā)表時間:2017-01-19
摘 要:本文詳細解讀了IEC 68 2 5:1975 標準 ;介紹了材料耐候性 老化測試原理 ,包括 戶外老化及氙燈加 速老化測試原理 ,從光譜的定義、光強的設(shè)定、溫度及濕度控制等幾個方面對 IEC68-2-5:1975標準進行分析。最后指出該標 準的技術(shù)局 限性及建議如何執(zhí)行該標準。
關(guān)鍵詞:IE C 68-2-5;戶外老化;Q -Sun 氙燈試驗箱;老化測試;G B/T 2423-24 ;G B /T 2424-14;GB/T 5170-901E C68-2-5 :1975 標準背景及其廣泛性IEC 68—2—5 :1975{實驗方法SA地面太陽輻射模擬》是 國際電工 委員會 的一個環(huán)境測試 實驗方法。
目前有很多電子行業(yè)在引用這個標準 ,對材料或產(chǎn)品進行耐候老化測試 ,其中包括空調(diào)、洗衣機 、電腦、電視、手機、耳機 、廚衛(wèi) 電器、太陽能等電工電子產(chǎn)品。
很多廣泛使用的國標也引用了該標準,如 G B /T 2423.24—1995{電工 電子產(chǎn) 品環(huán)境實驗 第 2 部分 :實驗方法 實驗 SA:模擬地 面上 的太 陽輻 射》,GB/T 2424.14—1995{電工電子產(chǎn) 品環(huán)境實驗 第 2部分:實驗方法 太 陽輻射實驗導(dǎo)則 》,G B/T 5170.9—1996{電工電子產(chǎn)品環(huán)境實驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射實驗設(shè)備 》等。
該標準廣泛用于電子電工產(chǎn)品的耐候性測試 ,主要利用氙燈光源 ,來加速模擬材料和產(chǎn)品在大氣環(huán)境下 ,因光照等因素的作用而產(chǎn)生的破壞;在解讀該標準之前,有必要了解大氣環(huán)境如何對材料和電子電工產(chǎn)品產(chǎn)生破壞的。